信號(hào)噪聲比
將模體放置在頭部診斷位置,并使模體水平放置于掃描野中心,然后送入磁體孔內(nèi),并掃描出定位圖-如圖。用SE掃描序列,層厚10mm(沒(méi)有10mm層厚的,選用大層厚),按TR500ms,TE30ms, NEX2次,F(xiàn)OV250mm和256×256矩陣掃描條件(必要時(shí)可適當(dāng)改變TR、TE時(shí)間,以獲得更好的影像),對(duì)模體不同測(cè)量層面進(jìn)行單層掃描,必要時(shí)*行均場(chǎng)。在掃描出模體均勻性層面后在圖像中心信號(hào)區(qū)域和周圍背景區(qū)域分別測(cè)量感興趣區(qū)域(ROI)面積為100mm2的信號(hào)強(qiáng)度和標(biāo)準(zhǔn)偏差,由下計(jì)算出信號(hào)噪聲比(SNR):
北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司
地址:海淀區(qū)二里莊5號(hào)樓102室
© 2024 版權(quán)所有:北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司 備案號(hào):京ICP備06053975號(hào)-2 總訪問(wèn)量:129851 站點(diǎn)地圖 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸